分析事例集 2008年11月10日付記 当社の分析事業における具体的な分析事例集、他のご紹介。 分析事例 半導体パッド表面変色調査 半導体めっき層の元素分布分析 Cu基板上薄膜残留物の分析 ガラス基板表面汚染物質の分析 表示パネル表面付着物質の分析 樹脂からの溶出イオン量評価 薄膜の密着強度評価 樹脂混入微小異物の成分分析 半導体デバイス酸化膜の膜厚評価 有害物質スクリーニング分析 分析事業内容 分析業務内容 使用分析装置一覧 このページのTOPへ